E+H数字式压力变送器PMP55-50E10/0

E+H数字式压力变送器PMP55-50E10/0

仪表可以进行下列测量：

• 在所有过程领域和过程测量技术中进行气体、蒸汽或液体的绝压和表压测量

• 液体的液位、体积和质量测量

• 高过程温度

• 不带膜片密封圈，最高为130 °C (266 °F)，150 °C (302 °F)最长60分钟

• 带膜片密封圈，最高为400 °C (752 °F)

 • 最大压力：400 bar (6 000 psi)

 • 已获得广泛认可，可在全球使用

优势

• 优秀的重现性和长期稳定性

• 高参考测量精度：高达±0.10 %

铂金型：±0.075 %

 • 最大量程比为100:1

 • 标准化平台，适用于差压变送器、静压变送器和压力变送器（Deltabar M 

Deltapilot M – Cerabar M）

• 实用的用户界面，调试简单快速

• 过程压力监控的最高安全等级为SIL 2，通过TÜV NORD认证，符合IEC 61508

 2.0 版和IEC 61511 标准

• 隔膜密封系统采用获得的TempC膜片，有效降低了环境温度和过程温度变

化引起的测量误差

• 提供符合ASME-BPE标准的仪表型号

过程压力使膜片发生形变，填充液将压力传输至电阻桥路上（半导体技术）。测量与压力变化相

关的桥路输出电压，并进行后续计算处理。

•可以在过程压力不超过400 bar (6 000 psi)的条件下测量

•高长期稳定性

•最大抗过载能力为4倍标称压力

•与隔膜密封系统相比，热效应显著降低

E+H数字式压力变送器PMP55-50E10/0